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Carrier localization mechanisms in InxGa1-xN/GaN quantum wells

机译:InxGa1-xN / GaN量子阱中的载流子定位机制

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摘要

Localization lengths of the electrons and holes in InGaN/GaN quantum wells have been calculated using numerical solutions of the effective mass Schrödinger equation. We have treated the distribution of indium atoms as random and found that the resultant fluctuations in alloy concentration can localize the carriers. By using a locally varying indium concentration function we have calculated the contribution to the potential energy of the carriers from band gap fluctuations, the deformation potential, and the spontaneous and piezoelectric fields. We have considered the effect of well width fluctuations and found that these contribute to electron localization, but not to hole localization. We also simulate low temperature photoluminescence spectra and find good agreement with experiment. © 2011 American Physical Society.
机译:已经使用有效质量薛定ding方程的数值解计算了InGaN / GaN量子阱中电子和空穴的定位长度。我们已经将铟原子的分布视为无规分布,并且发现所产生的合金浓度波动可以使载流子局部化。通过使用局部变化的铟浓度函数,我们已经计算出了带隙波动,形变电势以及自发和压电场对载流子势能的贡献。我们已经考虑了阱宽度波动的影响,并发现这些波动有助于电子的局部化,而不是空穴的局部化。我们还模拟了低温光致发光光谱,并与实验找到了很好的一致性。 ©2011美国物理学会。

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